產品中心
Product Center
熱門搜索：
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測試儀
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號示波器
SDS1122E+鼎陽SDS1122E+數字示波器
ME-2SYQ-2型淬火介質冷卻特性測試儀
UT89X/UT89XD優利德UT89X/D系列專業NCV數字式萬用表
UTG932/UTG962優利德UTG932/UTG962函數任意波形發生器
E8900A德力 5G NR 信號分析儀
UT890C/D/C+/D+優利德UT890C/D/C+/D+數字萬用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數字示波器
UTP1306S優利德UTP1306S系列直流穩壓電源
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規測試儀
UTD7072BG/UTD7102BG優利德UTD7072BG/UTD7102BG數字存儲示波器
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測試儀
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計
UT582/UT585/UT586/UT582+優利德UT582/UT585/T586漏電保護開關測試儀
致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機 適合 CMOS 影像感應組件量產需求 可靠的高速 Pick&Place 分類機 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動頭可有效率平衡測試壓力 自動測試壓力學習 IC 殘留檢測功能
更新時間：2025-07-07
產品型號：3270
瀏覽量：1928
致茂Chroma 3260自動化系統功能測試機 可靠的高速Pick&Place分類機 同步吸嘴雙取及雙放設計 具備處理QFP的能力 簡易編輯通訊定義（ECD）功能 無測試座損壞的問題 浮動頭可有效率衡測試壓力
更新時間：2025-07-07產品型號：3260瀏覽量：2067
致茂Chroma 3240自動化系統功能測試機 可靠的高速Pick&Place分類機 同步吸嘴雙取及雙放設計 具備處理QFP的能力 簡易編輯通訊定義（ECD）功能 無測試座損壞的問題 浮動頭可有效率衡測試壓力
更新時間：2025-07-07產品型號：3240瀏覽量：1869
致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調整測試間距至120mm 具有八個平行測試站點 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm 精確的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤
更新時間：2025-07-07產品型號：3240-Q瀏覽量：1983
致茂Chroma 3180八站邏輯測試分類機 具有八個平行測試站點 9Kpcs 產能 彈性的多測點架構 減輕壓測力 自動壓測力學習 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm 溫度測試范圍從常溫到高溫150 ℃ 連續自動重測功能
更新時間：2025-07-07產品型號：3180瀏覽量：1715
當前位置：
